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Produkt-Informationen "OTU-KS-NV-004-004-G2"
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
| Auslieferzustand: | Inkl. nanoVTEP Gen2 |
|---|---|
| Außenmaße (BxTxH): | 4 x 4 x 48,7 mm |
| Breite: | 4 mm |
| Hub: | 4 mm |
| Höhe: | 48,7 mm |
| Länge: | 4 mm |
| RoHS-konform: | ja |
| Produktgruppe: | Opens Tests |
| Baureihe: | OTU |
| Ausführung: | nanoVTEP Gen2 SP 0.16 inch |
| Temperatur min.: | 10 °C |
| Temperatur max.: | 60 °C |
| Typ: | Keysight Vectorless Test |
| Vakuum-Prüfadapter (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Zubehörtyp: | Ausbauzubehör |
| Wechselsätze WS: | WS Keysight |
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Produkt Details
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
Weitere Produkte dieser Baureihe:
Technische Daten
Technische Daten
- Hub: 4 mm
- Länge: 4 mm
- Außenmaße (BxTxH): 4 x 4 x 48,7 mm
Allgemeine Daten
- Produktgruppe: Opens Tests
- Baureihe: OTU
- Typ: Keysight Vectorless Test
- Ausführung: nanoVTEP Gen2 SP 0.16 inch
- Zubehörtyp: Ausbauzubehör
- Auslieferzustand: Inkl. nanoVTEP Gen2
- Breite: 4 mm
- Höhe: 48,7 mm
- Temperatur min.: 10 °C
- Temperatur max.: 60 °C
- RoHS-konform: ja
Passend für
- Vakuum-Prüfadapter (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Wechselsätze WS: WS Keysight
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